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電子產(chǎn)品硬件測試研究論文

時(shí)間:2024-05-31 01:12:02 電子信息工程畢業(yè)論文 我要投稿
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電子產(chǎn)品硬件測試研究論文

  摘要:隨著信息時(shí)代的發(fā)展,人們對(duì)電子產(chǎn)品的硬件質(zhì)量的要求日益提升。近年來智能化產(chǎn)品的普及,更是使得越來越多的企業(yè)在研發(fā)階段對(duì)硬件測試人員的需求已經(jīng)超過了軟件開發(fā)人員的需求,因此制造企業(yè)開始注重產(chǎn)品的硬件測試環(huán)節(jié)。硬件測試的目的,不僅僅是為了發(fā)現(xiàn)問題,更重要的是對(duì)問題分析和記錄,尋求合適的解決問題的方法,以期在今后避免這類問題的發(fā)生,并且繼續(xù)優(yōu)化電子產(chǎn)品的性能。

電子產(chǎn)品硬件測試研究論文

  關(guān)鍵詞:電子產(chǎn)品;硬件測試;測試分類

  對(duì)硬件產(chǎn)品進(jìn)行測試,尤其是針對(duì)核心環(huán)節(jié)或零部件,或是之前的測試中出現(xiàn)過的類似情況,測試階段需要進(jìn)行反復(fù)重點(diǎn)排查,對(duì)異常狀況或故障進(jìn)行及時(shí)分析,排除因人為因素產(chǎn)生的誤差或錯(cuò)誤,測試的全過程中,應(yīng)嚴(yán)格遵循人、機(jī)、料、法、環(huán)、測的六字要訣,提升測試的可靠性。

  一、測試歸類

 。1)性能測試。顧名思義,即對(duì)電子產(chǎn)品或設(shè)備的常溫性能(如電性能、光性能、色度學(xué)指標(biāo)、聲學(xué)指標(biāo)等),屬于最常規(guī)的測試,是驗(yàn)證電子產(chǎn)品質(zhì)量優(yōu)劣的重要指標(biāo)。通常在穩(wěn)定情況下進(jìn)行性能測試,檢測產(chǎn)品允許的使用范圍、電源適應(yīng)性、功耗等,明確產(chǎn)品安全運(yùn)行的條件,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的缺陷,后續(xù)通過改進(jìn)結(jié)構(gòu)或用料優(yōu)化產(chǎn)品的性能。

 。2)電磁兼容。電磁兼容(EMC),指的是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場方面干擾大。‥MI)和抗干擾能力(EMS)的綜合評(píng)定,是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一,電磁兼容的測量由測試場地和測試儀器組成。它包括電磁干擾和電磁敏感度兩部分,電磁干擾測試是測量被測設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號(hào)的大小來反應(yīng)對(duì)周圍電子設(shè)備干擾的強(qiáng)弱。電磁敏感度測試是測量被測設(shè)備對(duì)電磁騷擾的抗干擾的能力強(qiáng)弱。電磁干擾主要包括輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射。電磁兼容測試的目的是為了驗(yàn)證電子產(chǎn)品在面對(duì)復(fù)雜的電磁環(huán)境時(shí),阻擋和規(guī)避其他電磁環(huán)境對(duì)其正常使用的影響。本質(zhì)上是“設(shè)備和系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力”。

 。3)環(huán)境試驗(yàn)。電子產(chǎn)品的使用經(jīng)常會(huì)面臨極端惡劣的環(huán)境,對(duì)一些關(guān)鍵領(lǐng)域的電氣設(shè)備來說,在這些嚴(yán)酷的環(huán)境下能否正常使用至關(guān)重要。常規(guī)的環(huán)境試驗(yàn)包括:儲(chǔ)存溫度變化、高低溫工作、潮熱、鹽霧、粉塵、防水等。環(huán)境試驗(yàn)的目的是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間,在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或貯存的環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用,運(yùn)輸和貯存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。

 。4)可靠性試驗(yàn)。與環(huán)境試驗(yàn)相類似,可靠性測試也是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。不同的是,可靠性涉及的試驗(yàn)種類更多,環(huán)境更復(fù)雜,如振動(dòng)、跌落、高壓靜電、壓力、拉力、壽命、水平針焰、垂直燃燒、灼熱絲等。影響硬件可靠性試驗(yàn)的因素很多,元件失效、設(shè)計(jì)不當(dāng)、工藝問題都可能會(huì)極大地影響試驗(yàn)的結(jié)果。

 。5)安全。安全是電子產(chǎn)品測試中最重要的測試之一,很多研發(fā)企業(yè)有專門的安規(guī)工程師負(fù)責(zé)產(chǎn)品的安全測試和評(píng)估。安全試驗(yàn)通常為檢測電氣設(shè)備、元器件和絕緣工、器具性能而進(jìn)行的一系列相關(guān)試驗(yàn)。只有在涉及安全時(shí)才進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn),安全試驗(yàn)不要求對(duì)產(chǎn)品的性能作出評(píng)判。安全試驗(yàn)通常有:絕緣電阻、接地電阻、漏電流、抗電強(qiáng)度等。安全試驗(yàn)的重要性不言而喻,以電力系統(tǒng)為例,電力系統(tǒng)包括眾多的電氣設(shè)備,有些電氣設(shè)備的故障甚至?xí){到整個(gè)系統(tǒng)的安全供電。電力生產(chǎn)的實(shí)踐證明,對(duì)電氣設(shè)備按規(guī)定開展檢測試驗(yàn)工作,是防患于未然,保證電力系統(tǒng)安全、經(jīng)濟(jì)運(yùn)行的重要措施之一。

  二、測試級(jí)別

  受限測試資源和測試時(shí)間,按照測試內(nèi)容的重要性進(jìn)行分類,先測試重要性高的條目?蛻舻燃(jí)不同,對(duì)于測試的要求也不同。需要測試的條目不一樣,甚至同一條目的測試結(jié)果要求也不一樣。

 。ㄒ唬﹩卧獪y試

  單元測試的是一個(gè)電子產(chǎn)品中最小的單元,對(duì)模塊中的重要設(shè)計(jì)路徑進(jìn)行測試。單元測試的任務(wù)是:

  1、接口的測試。

  2、對(duì)模塊內(nèi)部的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)進(jìn)行測試。

  3、對(duì)執(zhí)行通路進(jìn)行測試。

  (二)集成測試

  集成測試是在單元測試的前提下進(jìn)行測試的,也稱為組裝測試。就是將進(jìn)行過單元測試的物品拼接起來,組成一個(gè)整體,測試他們的接口部位,在實(shí)際過程中就是將這些單元組合成整體,最后測試這些組件是否滿足要求。集成測試一定要在單元測試全部做好之后再進(jìn)行測試,不然就會(huì)對(duì)集成測試的效果造成很大的影響,加大代碼錯(cuò)誤。

 。ㄈ┫到y(tǒng)測試

  系統(tǒng)測試是所有測試的最后一個(gè)步驟,也是最關(guān)鍵的一個(gè)步驟,將經(jīng)過集成測試的軟件組合起來成為一個(gè)這部分整體,與系統(tǒng)連接起來,在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行測試,以此來保證產(chǎn)品的正常使用。

  三、測試細(xì)節(jié)

 。1)作為測試人員,我們需要理解設(shè)計(jì)的原理和關(guān)鍵技術(shù),關(guān)注重要性能參數(shù),但不是替換他們做設(shè)計(jì)工作,而是從研發(fā)的角度,考慮如何測試才能最好地保證產(chǎn)品質(zhì)量(準(zhǔn)確,可操作性,重復(fù)性,以及高效)。一款優(yōu)秀的電子產(chǎn)品,測試和研發(fā)是同等重要的。

  (2)硬件產(chǎn)品的測試既需要精密的設(shè)備保障,又需要測試人員縝密的操作。人員應(yīng)在測試過程中規(guī)范測試方法和測試案例,獲得獨(dú)立權(quán)威的測試結(jié)果,保證產(chǎn)品質(zhì)量。尋求提高測試可操作性和可重復(fù)性,提升測試效率和質(zhì)量。推廣測試方法,推動(dòng)測試嚴(yán)謹(jǐn)規(guī)范。

 。3)學(xué)習(xí)測試中有效控制誤差的方法,評(píng)估測試結(jié)果的不確定度,在有條件時(shí)應(yīng)進(jìn)行人員比對(duì)和機(jī)構(gòu)比對(duì),使測試結(jié)果的誤差降到盡可能低的水平。

  四、結(jié)語

  信息時(shí)代,電子產(chǎn)品的發(fā)展瞬息萬變,制造企業(yè)的發(fā)展也面臨越來越多的挑戰(zhàn),一方面要面對(duì)越來越多同類型企業(yè)的強(qiáng)力競爭,另一方面又要對(duì)成本、人員、產(chǎn)品、生產(chǎn)鏈進(jìn)行嚴(yán)格管控,不可謂壓力不大。但電子產(chǎn)品的競爭終究會(huì)回歸本源——質(zhì)量的比拼,因此對(duì)電子產(chǎn)品的硬件環(huán)節(jié)進(jìn)行嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y試,既是企業(yè)對(duì)客戶對(duì)自身的一種負(fù)責(zé),也為電子產(chǎn)品企業(yè)未來的發(fā)展定下基調(diào)、指明航向——質(zhì)量高于一切。

  參考文獻(xiàn)

  [1]黃艷敏.淺談電子產(chǎn)品的硬件測試技術(shù)[J].單片機(jī)與嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用,2010(2):16-17.

  [2]白玉林.電子產(chǎn)品的硬件設(shè)計(jì)的測試技術(shù)探究[J].工程技術(shù):全文版,2016(10):00289.

  [3]蔣日輝.電子產(chǎn)品的硬件測試技術(shù)研究[J].電子測試,2016(14):118-119.

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